日立儀器X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀快速可靠的X射線熒光鍍層厚度測量及材料分析，低成本，高效率。特別適合：PCB行業，電鍍行業等做精密無損測試。可測鍍金，銀，銅，錫，及稀有金屬等。

X-Strata920鍍層測厚儀特點及優勢：

1、測量元素范圍：鈦Ti22-鈾U92；

2、測量5層（4層鍍層+底材層），同時分析15種元素，自動修正X射線重疊譜線；

3、測量精度高、穩定性好，測量結果精確至uin；

4、快速無損測量，測量時間短，10秒內得出測量結果；

5、可分析固體、液體，定性、半定量和定量分析；

6、可進行貴金屬檢測，如Au Karat評價；

7、材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析；

8、X-Strata920擁有先進的安全系統。

鍍層測厚儀使用方法：

第一步：將產品放置在樣品臺上，無損分析，無需樣品制備，開槽式樣品倉便于放置產品，超大樣品臺便于大面積產品（如：PCB）測量，配備了門開閉傳感器，增強了安全性。

第二步：一鍵完成視頻聚焦，避免人為操作誤差標配固定焦距12.7mm，選配變焦，高分辨率，高放大倍率的彩色數碼影像裝置，畫面清晰測試點精確定位；放大倍數30倍（標配），50倍（選配）自動臺：利用可編程XY樣品臺和Z軸    實現單次或多次分析操作，簡單快速的多點分析。

第三步:點擊“GO”一鍵完成測量，幾秒內顯示結果，保存、打印或傳輸結果，測試結果可一鍵導出PDF（標配）、Excel（選配）。使用預備和客戶自定義的報告模板。